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Voici les produits dans la catégorie Segment Antérieur – Topographes.
MR-6000
Combiné Multiref | Tomey
MR-6000
Combiné multiref Ref / Tono / Pachy - Tomey
- Combinaison unique de 5+1 systèmes réunis dans un seul appareil
- Changement entre les modes Réfraction / Kérato et Tono / Pachy inférieur à 3 secondes
- Mode spécial Quick Ref pour patients peu coopérants
- Prise de mesure automatique ou manuelle
- Gain de place
- Installation sur unité de consultation ou au secrétariat
- Fonctions d’export disponibles pour tous les logiciels métiers
- Ensemble interconnecté Tomey
CASIA-2
OCT Swept Source / Topographe | Tomey
CASIA-2
OCT Swept Source de segment antérieur et topographe - Tomey
- Nombreuses applications en Cataracte / Glaucome / Chirurgie Cornéenne
- Analyse de la fermeture de l’angle pour le glaucome sur 360° et mesure de la flèche cristallinienne
- Imagerie avancée avec une profondeur de mesure augmentée à 13 mm et une vitesse de scan encore plus rapide par rapport à la génération précédente.
- Topographie cornéenne et choix de l’implant
- Analyse de la courbure du cristallin et progression dans le temps
- Simulation implants phakes
TMS-4N
Topographe cornéen | Tomey
TMS-4N
Topographe cornéen - Tomey
- Topographie antérieure par Placido
- Haute résolution
- Module de détection kératocône selon indices de Klyce
- Système de cônes brevetés pour une large surface de mesure
- Compatible avec le logiciel Okulix pour le calcul d’implant avancé (en option)
- Compatibilité avec les logiciels d’adaptation des principaux fabricants de lentilles
GALILEI
Topographe à caméra Scheimpflug et Placido | Ziemer
GALILEI
Topographe à caméra Scheimpflug et Placido avec fonction biométrie - Ziemer
- Concept révolutionnaire permettant une biométrie complète en une seule session
- La technologie Dual-Scheimpflug offre une mesure de puissance cornéenne, de pachymétrie et de carte d’élévation postérieure en haute définition
- Puissance cornéenne totale calculée par Ray-Tracing et aberrations totales cornéennes
- Plateforme de choix pour les nouvelles méthodes de calculs d’implant utilisant l’épaisseur de l’implant et la puissance cornéenne antérieure et postérieure